-
大電(dian)流(liu)註入鉗(qian)大電(dian)流(liu)註入鉗(qian)TBBCI1-800K420是(shi)壹(yi)款卡扣式(shi)大電(dian)流(liu)註入探(tan)頭(tou)，擴(kuo)展了我(wo)們經(jing)濟實(shi)惠(hui)的EMC預測試(shi)產(chan)品範圍(wei).
查(zha)看(kan)詳(xiang)細介(jie)紹(shao) -
BCI大電(dian)流(liu)註入探(tan)頭(tou)TBBCI1-800K420 10K-500MBCI大電(dian)流(liu)註入探(tan)頭(tou)TBBCI1-800K420 10K-500M TBBCI1-800K420 是(shi)壹(yi)款卡扣式(shi)大電(dian)流(liu)註入探(tan)頭(tou)，擴(kuo)展了我(wo)們經(jing)濟實(shi)惠(hui)的EMC 預測試(shi)產(chan)品範圍(wei).
查(zha)看(kan)詳(xiang)細介(jie)紹(shao) -
TBBCI-800K420大電(dian)流(liu)註入探(tan)頭(tou)ISO11452-4TBBCI-800K420大電(dian)流(liu)註入探(tan)頭(tou)ISO11452-4是(shi)壹(yi)款卡扣式(shi)大電(dian)流(liu)註入探(tan)頭(tou)，擴(kuo)展了我(wo)們經(jing)濟實(shi)惠(hui)的EMC 預測試(shi)產(chan)品範圍(wei).根(gen)據ISO11452-4 標(biao)準(zhun)，BCI 探(tan)頭(tou)主(zhu)要(yao)用於在1MHz 至400MHz 頻率範圍(wei)內(nei)對汽車產(chan)品進行(xing)抗擾(rao)度測試。
查(zha)看(kan)詳(xiang)細介(jie)紹(shao) -
BCI電(dian)流(liu)註入探(tan)頭(tou)TBBCI-200K280 10K-300MBCI電(dian)流(liu)註入探(tan)頭(tou)TBBCI-200K280 10K-300M是(shi)壹(yi)款卡扣式(shi)大電(dian)流(liu)註入探(tan)頭(tou)，擴(kuo)展了的產(chan)品範圍(wei)，使其(qi)成(cheng)為(wei)經(jing)濟(ji)實(shi)惠(hui)的EMC預測試(shi)設備(bei). 註入電(dian)流(liu)探(tan)頭(tou)用於將大RF電(dian)流(liu)感應耦合到通(tong)過其(qi)孔(kong)徑的導(dao)體中
查(zha)看(kan)詳(xiang)細介(jie)紹(shao)
深圳(zhen)市國測(ce)電(dian)子(zi)有限(xian)公(gong)司(si)版權所有(you) | 粵ICP備(bei)14037208號
GoogleSitemap
