技(ji)術(shu)支(zhi)持
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輻(fu)射(she)抗(kang)擾度(du)測(ce)試(shi)的(de)試(shi)驗環(huan)境(jing)及功(gong)能(neng)特(te)點
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壹(yi)、輻(fu)射(she)抗(kang)擾度(du)測(ce)試(shi)的(de)試(shi)驗環(huan)境(jing):
1、這(zhe)個(ge)標準規(gui)定了(le)抗(kang)擾度(du)測(ce)試(shi)的(de)試(shi)驗環(huan)境(jing),所需(xu)的(de)測試(shi)設(she)備(bei),測試(shi)等(deng)級(ji),對測(ce)試(shi)信(xin)號的(de)要求,測(ce)試(shi)的(de)頻(pin)率(lv)範(fan)圍(wei),場(chang)的(de)均勻域的大(da)小(xiao)以(yi)及(ji)均(jun)勻性校(xiao)準的(de)方法(fa),試(shi)驗布置等。
2、測(ce)試(shi)通常(chang)是(shi)在電(dian)波暗(an)室(shi)裏(li)進(jin)行(xing)的(de),要求暗(an)室的(de)體積相(xiang)對於(yu)被測(ce)物的大小(xiao)要能夠(gou)提供(gong)壹個(ge)足以(yi)保(bao)證均勻場(chang)的尺(chi)寸的(de)空(kong)間。作(zuo)為(wei)主要的測(ce)試(shi)設(she)備(bei)。
3、電(dian)臺、電(dian)視臺(tai)、固(gu)定或移動式無線電(dian)發(fa)射(she)臺等都可(ke)能(neng)作(zuo)為(wei)電(dian)磁場(chang)輻(fu)射(she)源,幹擾(rao)電(dian)子設(she)備(bei)的正(zheng)常(chang)工作(zuo)。射(she)頻(pin)輻射(she)抗(kang)擾度(du)試(shi)驗通過模(mo)擬(ni)壹定強度(du)的(de)電(dian)磁輻(fu)射(she)環(huan)境(jing),考察被(bei)試(shi)設(she)備(bei)的輻(fu)射(she)電(dian)磁場(chang)抗(kang)擾度(du)能(neng)力(li)。
二、輻(fu)射(she)抗(kang)擾度(du)測(ce)試(shi)的(de)功(gong)能(neng)特(te)點:
1、射(she)頻(pin)信(xin)號源:能夠(gou)產生(sheng)所需(xu)的(de)頻(pin)率(lv)範(fan)圍(wei),比如(ru)常(chang)用(yong)的80MHz到6GHz,具有能產生(sheng)標準所規(gui)定的(de)調(tiao)制信(xin)號的(de)能(neng)力(li)。
2、射(she)頻(pin)功率(lv)放大器(qi):它(ta)的指(zhi)標非(fei)常(chang)重要,還有就是(shi)為(wei)了(le)降(jiang)低(di)諧(xie)波對抗(kang)擾度(du)測(ce)試(shi)的(de)影(ying)響(xiang),標準對經(jing)過(guo)天線之(zhi)後(hou)的信(xin)號的(de)諧(xie)波也有要求,要求至少必(bi)須比基波(bo)低(di)。
3、四端(duan)口定向(xiang)耦(ou)合(he)器(qi):耦合(he)輸(shu)出端口接(jie)到功(gong)率(lv)計進(jin)行(xing)前(qian)向(xiang)或反向(xiang)功(gong)率(lv)進(jin)行(xing)監(jian)測測(ce)量(liang)。
4、功(gong)率(lv)探(tan)頭(tou)及(ji)功率(lv)計:用於(yu)對射(she)頻(pin)功放的實(shi)際(ji)輸(shu)出的前向(xiang)或反向(xiang)功(gong)率(lv)進(jin)行(xing)監(jian)測。
5、射(she)頻(pin)開關及(ji)控(kong)制(zhi)器(qi):對射(she)頻(pin)信(xin)號源的輸(shu)出信(xin)號到不(bu)同功放的路(lu)徑進(jin)行(xing)切換(huan),射(she)頻(pin)功放的輸(shu)出如果需(xu)要接到不(bu)同的發(fa)射(she)天線,也會需(xu)要用到能(neng)承受(shou)特(te)定功(gong)率(lv)的(de)射(she)頻(pin)開關進(jin)行(xing)切換(huan)。
6、發(fa)射(she)天線:根據不(bu)同頻(pin)段的(de)測(ce)試(shi)要求,會(hui)需(xu)要若幹(gan)個(ge)不同的天線,以(yi)便(bian)覆蓋不(bu)同的頻(pin)率(lv)範(fan)圍(wei),產生(sheng)特(te)定的(de)場強。常(chang)用(yong)的發(fa)射(she)天線包括雙(shuang)錐(zhui)天線,對數(shu)天線,喇叭天線。
7、場強探(tan)頭(tou)及(ji)場強計:用於(yu)對測(ce)量(liang)區(qu)域內的(de)場(chang)強進(jin)行(xing)校(xiao)準和監(jian)測。
總結:輻(fu)射(she)抗(kang)擾度(du)測(ce)試(shi)的(de)試(shi)驗環(huan)境(jing)及功(gong)能(neng)特(te)點小(xiao)編(bian)就分(fen)享(xiang)到這(zhe)了(le),看(kan)完本(ben)文您(nin)就應(ying)該(gai)有了(le)基本(ben)的(de)認識(shi)和了(le)解相(xiang)信(xin)大(da)家都明(ming)白了(le)吧!總的來(lai)說(shuo),希(xi)望對大(da)家有所幫(bang)助(zhu)。



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