低(di)頻(pin)電(dian)磁(ci)輻(fu)射檢(jian)測儀是壹(yi)款用(yong)於(yu)檢(jian)測、分(fen)析低(di)頻(pin)磁場(chang)和電(dian)場(chang)的高(gao)精(jing)度(du)儀器。采用(yong)創(chuang)新的電(dian)路(lu)元件，確(que)保(bao)所(suo)有(you)設備(bei)性能在標(biao)準條件仍然(ran)具(ju)有(you)非(fei)常(chang)可靠(kao)的性能，內(nei)置超高(gao)靈(ling)敏(min)度(du)電(dian)/磁(ci)場(chang)復(fu)合傳(chuan)感(gan)器，可對各(ge)種(zhong)低(di)頻(pin)環境中存在電(dian)、磁(ci)場(chang)輻射進行檢(jian)測。
 

　　低(di)頻(pin)電(dian)磁(ci)輻(fu)射檢(jian)測儀的使(shi)用(yong)方法：
 

　　1、按(an)下(xia)電(dian)源(yuan)開(kai)關(guan)，默認(ren)Wie“磁(ci)場(chang)輻射強(qiang)度(du)”測(ce)量(liang)，超過2毫高(gao)斯(si)報警(jing)響；長時間按(an)下(xia)“檢(jian)測模(mo)式轉換”不(bu)放(fang)松，約(yue)2秒(miao)後(hou)，切(qie)換到(dao)“電(dian)場(chang)輻射強(qiang)度(du)”檢(jian)測；
 

　　2、將儀器的(de)測試(shi)區對準待(dai)測(ce)物品，慢(man)慢(man)移動靠(kao)近該物品，直(zhi)到實(shi)際(ji)接(jie)觸該物品，越靠(kao)近待測物品，電(dian)磁(ci)場(chang)或(huo)電(dian)場(chang)的強(qiang)度(du)會(hui)隨(sui)之(zhi)增(zeng)大，報警(jing)頻(pin)率(lv)也(ye)越快(kuai)；
 

　　3、在測量(liang)過程(cheng)中，改變儀器對(dui)待測物品的(de)角(jiao)度(du)與(yu)位置，可得(de)到(dao)最(zui)大的讀(du)值(zhi)；
 

　　4、如果(guo)待(dai)測(ce)物品在測量(liang)中被關(guan)掉電(dian)源(yuan)，在“磁場(chang)輻射強(qiang)度(du)檢(jian)測”模(mo)式下(xia)，讀(du)值(zhi)應(ying)該回復(fu)到(dao)零(ling)狀態；在“電(dian)場(chang)輻射強(qiang)度(du)檢(jian)測”模(mo)式下(xia)，某些(xie)物品仍可檢(jian)測到(dao)電(dian)磁(ci)波(bo)信號(hao)，那屬(shu)於該物品接(jie)收到的(de)外部(bu)電(dian)磁(ci)波(bo)信號(hao)，對人體(ti)無危(wei)害。
 

　　低(di)頻(pin)電(dian)磁(ci)輻(fu)射檢(jian)測儀用(yong)於(yu)低頻電(dian)磁(ci)場(chang)測量(liang)，如高(gao)壓輸電(dian)線(xian)、變電(dian)站、配(pei)電(dian)室、感(gan)應(ying)爐、地鐵(tie)、電(dian)車(che)等(deng)作業場(chang)所或(huo)公(gong)共場(chang)所，進行設備(bei)低頻(pin)電(dian)磁(ci)輻(fu)射研究或(huo)環境低頻(pin)電(dian)磁(ci)輻(fu)射測(ce)量(liang)或(huo)研究等(deng)不(bu)同(tong)領(ling)域。在實(shi)際(ji)運(yun)用(yong)中，例如對(dui)高(gao)壓線(xian)和變電(dian)站，無論是由單(dan)壹頻(pin)率(lv)還(hai)是(shi)有(you)多(duo)個頻率(lv)構成測(ce)試(shi)場(chang)，在寬(kuan)帶模(mo)式測(ce)量(liang)中可顯(xian)示(shi)出測(ce)量(liang)點的(de)主(zhu)要(yao)輻射源(yuan)頻(pin)率(lv)。