喀(ka)嚦(li)聲分(fen)析儀(yi)NF-5035是(shi)壹款手持式(shi)EMI分(fen)析儀(yi)器(qi)，頻(pin)率(lv)範(fan)圍(wei)高達30MHz；利(li)用EMI輻(fu)射(she)幹擾其(qi)測(ce)試(shi)本(ben)質(zhi)是(shi)測(ce)量被(bei)測(ce)品(pin)產(chan)生(sheng)的(de)幹擾電(dian)磁(ci)場，采用高(gao)精(jing)度(du)三(san)維磁(ci)場探頭(tou)/單維電(dian)場探頭(tou)作為(wei)輻(fu)射(she)幹擾信(xin)號的感(gan)應(ying)磁(ci)場Z小(xiao)量程(cheng)低至(zhi)1pT，1mV/m電場；配合免(mian)費(fei)的EMI分(fen)析軟件，實(shi)現對EMI低頻(pin)輻射(she)幹擾的(de)分(fen)析測(ce)試(shi)工作，進(jin)而(er)縮短(duan)產(chan)品(pin)測(ce)試(shi)工作，數(shu)據(ju)處理(li)采(cai)用高(gao)速DSP（數(shu)字(zi)信號處理(li)器(qi)）芯(xin)片(pian)能精確(que)快速處理(li)探頭(tou)感(gan)應

EMI低頻(pin)輻射(she)分(fen)析儀(yi)NF-5035是(shi)壹款手持式(shi)EMI分(fen)析儀(yi)器(qi)，頻(pin)率(lv)範(fan)圍(wei)高達30MHz；利(li)用EMI輻(fu)射(she)幹擾其(qi)測(ce)試(shi)本(ben)質(zhi)是(shi)測(ce)量被(bei)測(ce)品(pin)產(chan)生(sheng)的(de)幹擾電(dian)磁(ci)場，采用高(gao)精(jing)度(du)三(san)維磁(ci)場探頭(tou)/單維電(dian)場探頭(tou)作為(wei)輻(fu)射(she)幹擾信(xin)號的感(gan)應(ying)磁(ci)場Z小(xiao)量程(cheng)低至(zhi)1pT，1mV/m電場；配合免(mian)費(fei)的EMI分(fen)析軟件，實(shi)現對EMI低頻(pin)輻射(she)幹擾的(de)分(fen)析測(ce)試(shi)工作，進(jin)而(er)縮短(duan)產(chan)品(pin)測(ce)試(shi)工作，數(shu)據(ju)處理(li)采(cai)用高(gao)速DSP（數(shu)字(zi)信號處理(li)器(qi)）芯(xin)片(pian)能精確(que)快速處理(li)探頭(tou)感(gan)應