TBBCI-800K420大電(dian)流(liu)註入(ru)探(tan)頭(tou)ISO11452-4是壹款卡(ka)扣式大(da)電(dian)流(liu)註入(ru)探(tan)頭(tou)，擴展(zhan)了(le)我(wo)們(men)經(jing)濟(ji)實(shi)惠(hui)的EMC 預測試產品(pin)範圍.根(gen)據(ju)ISO11452-4 標(biao)準(zhun)，BCI 探(tan)頭(tou)主要用於在(zai)1MHz 至400MHz 頻(pin)率範圍內對(dui)汽車(che)產品(pin)進行(xing)抗擾度(du)測試。對(dui)於其大部分(fen)帶寬(kuan)而(er)言，揑入(ru)損(sun)耗為(wei)5dB。在(zai)250 kHz 到230 MHz 的頻(pin)率範圍內，它(ta)符(fu)合(he)
ISO11452-4 的(de)揑入(ru)損(sun)耗規(gui)範。該探(tan)頭(tou)具有(you)單獨的(de)特性(xing)，可(ke)在(zai)10 kHz–450 MHz 的頻(pin)率範圍內使用。
TBBCI-800K420大電流(liu)註入(ru)探(tan)頭(tou)ISO11452-4電流(liu)註入(ru)探(tan)頭(tou)可(ke)用於註入(ru)嚴重程度(du)等級(ji)I（60mA）、II（100mA）、III（150mA）、IV（200mA）和客(ke)戶(hu)特(te)定(ding)嚴重程度(du)等級(ji)V，最(zui)高可(ke)達350mA。
TBBCI-800K420註入(ru)電(dian)流(liu)探(tan)頭(tou)空間(jian)為27mm，典(dian)型揑入(ru)損(sun)耗5dB，典(dian)型傳(chuan)輸(shu)阻抗(kang)為26dB該探(tan)頭(tou)
還可(ke)用於射頻(pin)電(dian)流(liu)監(jian)測應用
產品(pin)特點(dian)
10KHz-500MHz 頻(pin)率範圍
單(dan)獨校準(zhun)、分(fen)體(ti)式(shi)夾(jia)具(ju)設(she)計(ji)
符合(he)IEC/EN 6100-4-6 ISO11452-4
典(dian)型揑入(ru)損(sun)耗 5dB、典(dian)型傳(chuan)輸(shu)阻抗(kang)26dBOhm
27mm 孔徑(jing)、1 年質(zhi)保
應用
1. 射頻(pin)抗(kang)擾度(du)測試
技術指(zhi)標(biao)：
類(lei)型： 電(dian)流(liu)註入(ru)探(tan)頭(tou)
符合：ISO 11452-4; IEC 6100-4-6
頻(pin)率範圍：10K-500M
插(cha)入(ru)損(sun)耗：5dB 典(dian)型值(zhi)
傳(chuan)輸(shu)阻抗(kang)： 29dBΩ 典(dian)型值(zhi)
最(zui)大輸(shu)入(ru)功(gong)率：100W @ 30分(fen)鐘(zhong)
最(zui)高溫(wen)度(du)：80℃
接口(kou)：N
內徑(jing)：27mm
直徑(jing)：92mm
重量(liang)：1.2Kg
質(zhi)保：1年(nian)
