近場(chang)探(tan)頭組HZ530（1G有(you)源近場(chang)探(tan)頭）是由(you)用(yong)於(yu)EMI電(dian)磁輻(fu)射(she)幹(gan)擾(rao)診(zhen)斷(duan)的(de)三個有(you)源寬帶(dai)探頭(tou)組(zu)成(cheng)。這些探(tan)頭可與輸(shu)入(ru)阻(zu)抗(kang)為(wei)50Ω的HAMEG頻(pin)譜(pu)分析(xi)儀相(xiang)連(lian)，探頭可通(tong)過頻(pin)率分(fen)析(xi)儀或(huo)電池(chi)來(lai)供(gong)電。這些探(tan)頭具(ju)有細(xi)長的(de)外形(xing)，因(yin)此(ci)甚(shen)至(zhi)在空間(jian)狹窄的(de)測(ce)試(shi)環境中也(ye)可接觸(chu)到(dao)測(ce)試(shi)對(dui)象。

有源近場(chang)探(tan)頭HZ540HZ550（3G）​HZ540和(he)HZ550為(wei)有源近場(chang)探(tan)頭組套(tao)裝，設(she)計(ji)用於(yu)在(zai)解(jie)決(jue)電(dian)磁(ci)輻射問題時提(ti)供(gong)診(zhen)斷(duan)幫(bang)助。這些套(tao)件(jian)分別(bie)由(you)三(san)個(ge)或(huo)五(wu)個不(bu)同的(de)手持(chi)式(shi)探(tan)頭組成。它們擁有不(bu)同的(de)靈敏(min)度和(he)接收(shou)特性，可結(jie)合(he)各(ge)種頻(pin)譜(pu)分析(xi)儀、EMI接收(shou)機(ji)或(huo)示波(bo)器(qi)使用。

PBS2近場(chang)探(tan)頭組（前(qian)置(zhi)放(fang)大器(qi)UBBV2）DC-9G何頻(pin)譜(pu)分析(xi)儀、示波(bo)器(qi)或(huo)EMI測(ce)試(shi)接(jie)收(shou)機(ji)，頻(pin)率範(fan)圍超(chao)寬(kuan)，滿(man)足您現(xian)在(zai)以及未(wei)來(lai)的測(ce)量(liang)需(xu)求(qiu)。 PBS2近場(chang)探(tan)頭組包括(kuo)4個(ge)磁(ci)場(chang)探(tan)頭和(he)1個電(dian)場(chang)探(tan)頭，所有(you)探(tan)頭均(jun)覆蓋(gai)絕緣(yuan)層(ceng)。配(pei)備(bei)手握式(shi)三(san)角架，固(gu)定(ding)探頭(tou)組(zu)，以消(xiao)除抖動帶來(lai)的影(ying)響(xiang)

PBS1近(jin)場(chang)探(tan)頭組（DC-9G）適(shi)合(he)任(ren)何頻(pin)譜(pu)分析(xi)儀、示波(bo)器(qi)或(huo)EMI測(ce)試(shi)接(jie)收(shou)機(ji)，頻(pin)率範(fan)圍超(chao)寬(kuan)，滿(man)足您現(xian)在(zai)以及未(wei)來(lai)的測(ce)量(liang)需(xu)求(qiu)。PBS1近場(chang)探(tan)頭組包括(kuo)4個(ge)磁(ci)場(chang)探(tan)頭和(he)1個電(dian)場(chang)探(tan)頭，所有(you)探(tan)頭均(jun)覆蓋(gai)絕緣(yuan)層(ceng)。配(pei)備(bei)手握式(shi)三(san)角架，固(gu)定(ding)探頭(tou)組(zu)，以消(xiao)除抖動帶來(lai)的影(ying)響(xiang)。

近場(chang)探(tan)頭EM5030（DC-3G）是壹(yi)款主(zhu)要(yao)用(yong)於(yu)查(zha)找幹擾(rao)源，判定(ding)幹擾(rao)產生(sheng)原因(yin)的高(gao)性價(jia)比近(jin)場(chang)探(tan)頭。可用來(lai)檢測(ce)器(qi)件(jian)表面的(de)磁(ci)場(chang)方(fang)向(xiang)以及(ji)強(qiang)度；檢測(ce)模(mo)塊(kuai)附近的(de)磁場(chang)環境。為(wei)了降低幹擾(rao)，尋找(zhao)到(dao)真(zhen)正的幹(gan)擾(rao)源或(huo)者是其傳(chuan)播的(de)途徑是非常(chang)有必要(yao)的(de)