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近(jin)場(chang)探(tan)頭EM5030（DC-3G）

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近(jin)場(chang)探(tan)頭EM5030（DC-3G）

概(gai)述：

近(jin)場(chang)探(tan)頭EM5030（DC-3G） 是壹(yi)款(kuan)主要用於(yu)查(zha)找幹擾源(yuan)，判定(ding)幹擾產生(sheng)原因(yin)的(de)高性(xing)價比(bi)近(jin)場(chang)探(tan)頭。可用(yong)來檢測(ce)器(qi)件(jian)表(biao)面(mian)的(de)磁(ci)場(chang)方(fang)向以及(ji)強(qiang)度(du)；檢測(ce)模(mo)塊附近(jin)的(de)磁(ci)場(chang)環(huan)境(jing)。為了(le)降低幹(gan)擾，尋(xun)找到真正的(de)幹擾源(yuan)或(huo)者(zhe)是(shi)其(qi)傳(chuan)播的(de)途徑是(shi)非(fei)常(chang)有必(bi)要(yao)的(de)，通(tong)過(guo)近(jin)場(chang)探(tan)頭測量(liang)可(ke)以很(hen)方(fang)便地實現定(ding)位功(gong)能。通(tong)過(guo)配合(he)EM5020A(20dB增益(yi))或(huo)者(zhe)EM5020B(30dB增益(yi))前(qian)置放(fang)大器(qi)可(ke)以提(ti)高系統(tong)測(ce)試(shi)靈(ling)敏度(du)。

技(ji)術(shu)參數：

訂購信息(xi)：

          EM5030  近(jin)場(chang)探(tan)頭（3G）

標(biao)準(zhun)配置：4根(gen)探(tan)頭、N型轉(zhuan)接(jie)頭、連(lian)接(jie)線、包(bao)裝箱(xiang)；