輻(fu)射(she)幹擾(簡(jian)稱RE),主要(yao)是(shi)指(zhi)能量(liang)以電(dian)磁波(bo)形式(shi)由(you)源發射(she)到空間(jian)或能量(liang)以電(dian)磁波(bo)形式(shi)在(zai)空間(jian)傳(chuan)播的現(xian)象,所(suo)有(you)電(dian)子產(chan)品(pin)都有(you)相(xiang)應(ying)的(de)輻(fu)射(she)幹擾測(ce)試(shi)要求。
抑(yi)制輻射(she)幹擾的(de)方(fang)法是(shi)在(zai)設計是(shi)就(jiu)對(dui)PCB板進行修(xiu)正(zheng)進行合理(li)布(bu)局(ju)。但在(zai)實際工作(zuo)中(zhong),產品(pin)進行zui後(hou)的(de)測試(shi)驗證(zheng)會發(fa)現(xian)輻(fu)射(she)幹擾項目(mu)不合(he)格(ge), 而(er)產品(pin)往往已經(jing)設計(ji)定(ding)型,重新考(kao)慮(lv)PCB的(de)設(she)計(ji),不(bu)僅會增(zeng)大(da)生(sheng)產(chan)成(cheng)本,而且(qie)會(hui)延遲產(chan)品(pin)的上(shang)市(shi)時(shi)間(jian),從而(er)造(zao)成(cheng)嚴重經(jing)濟(ji)損失(shi)。國測(ce)電(dian)子本著多(duo)年(nian)電(dian)子測(ce)試(shi)儀(yi)器行業從(cong)業(ye)經(jing)驗,結合與客(ke)戶(hu)測(ce)試(shi)溝通(tong)的(de)實際工作(zuo)經(jing)驗,簡(jian)單介紹輻射(she)幹擾的(de)測(ce)試(shi)方法以及如何查(zha)找失(shi)敗原因(yin)和整(zheng)改措施(shi)。
壹(yi). RE測試(shi)場地布(bu)局(ju)如下(xia)

二(er). 輻(fu)射(she)幹擾測(ce)試(shi)限(xian)值要求
不同(tong)產品(pin)所(suo)對(dui)應(ying)的(de)標(biao)準具(ju)體要求也(ye)會(hui)有(you)所(suo)不(bu)同(tong),大體(ti)可歸納(na)如(ru)下(xia):
頻率 | QP限(xian)值 (Class B) | 參(can)考(kao)標(biao)準 | |
30MHz – 230MHz 230MHz– 1GHz | 40dBuV/m 47dBuV/m | EN 55022 | |
頻率 | QP限(xian)值(Class B) | AV限(xian)值(Class B) | 參(can)考(kao)標(biao)準 |
1GHz – 3GHz 3GHz – 6GHz | 70dBuV/m 74dBuV/m | 50dBuV/m 54dBuV/m | EN 55022 |
三(san). 整(zheng)改步驟(zhou)
1. 了(le)解(jie)產品(pin)的工作(zuo)特點,盡量(liang)多(duo)的了(le)解(jie)測試(shi)產品(pin)輻射(she)幹擾超(chao)標(biao)的(de)具(ju)體情況;
2. 針(zhen)對(dui)輻(fu)射(she)超標(biao)問(wen)題(ti),需用(yong)戶(hu)自(zi)行根據實驗(yan)室(shi)測(ce)試(shi)所(suo)提供的信(xin)息(xi)判斷為(wei)何種類型(xing)的(de)超標(biao)。
3. 分析電(dian)路,使(shi)用(yong)近場探頭進行探查(zha)以確(que)定(ding)幹擾源(yuan)和(he)其的(de)的(de)幹擾途徑;
4. 確(que)保整(zheng)改方式(shi)正(zheng)確,需采取(qu)必(bi)要的(de)排查(zha)測試(shi)並做(zuo)問題的進壹步(bu)確(que)認;
5. 根據超標(biao)的(de)嚴(yan)重性壹(yi)般(ban)可采用(yong)輻(fu)射(she)源頭整(zheng)改或直(zhi)接(jie)從幹擾途徑處(chu)下手(shou)(可以以(yi)6dB為(wei)限(xian));
6. 驗(yan)證(zheng)整(zheng)改效(xiao)果(guo),效(xiao)果(guo)不(bu)理(li)想(xiang)則返(fan)回(hui)繼(ji)續分析/整(zheng)改,有(you)效(xiao)果(guo)則要求用(yong)更(geng)經(jing)濟(ji)的方(fang)式(shi);
四(si). 如何查(zha)找輻(fu)射(she)幹擾產(chan)生(sheng)的原(yuan)因
壹般(ban)情況(kuang)下,大(da)多(duo)數(shu)都是(shi)可以通(tong)過排除法來查(zha)找輻(fu)射(she)產生的原(yuan)因(yin)(尤其是(shi)對(dui)設(she)備不(bu)是(shi)很(hen)了(le)解(jie)的情況)。具(ju)體分析
五(wu). 線(xian)纜及屏蔽(bi)問題(ti)整(zheng)改建(jian)議
1. 金(jin)屬機(ji)箱(xiang)屏蔽(bi)性能的改善:
改善機箱(xiang)的縫(feng)隙(xi),增(zeng)加表面(mian)的(de)平(ping)整(zheng)度(du),或采(cai)取(qu)*性的(de)接縫(feng),用(yong)導電(dian)墊(dian)來(lai)改善接觸表面(mian)
的(de)接觸性能;通風口應(ying)采(cai)用(yong)防(fang)塵板,或采(cai)用(yong)波(bo)導通風(feng)板,鍵盤等應(ying)采(cai)用(yong)隔(ge)艙(cang);印(yin)刷(shua)板及
設(she)備內部布線(xian)等(deng)可能產生輻(fu)射(she)幹擾的(de)布(bu)局(ju),應(ying)遠(yuan)離(li)縫隙(xi)或功(gong)能行開孔的部位(wei),或采(cai)取(qu)屏
蔽(bi)的補救措(cuo)施(shi)或重新布(bu)局(ju)。
2. 非(fei)金(jin)屬機(ji)箱(xiang)改善
對(dui)機(ji)箱(xiang)進行導電(dian)性噴(pen)塗,包(bao)括(kuo)結合部分的縫(feng)隙(xi),並(bing)保證(zheng)機箱(xiang)有(you)導電(dian)性的(de)連(lian)接(jie);對(dui)產(chan)生或
可能產生輻(fu)射(she)的部分采取(qu)局(ju)部屏蔽(bi),並將(jiang)所(suo)有(you)進入屏(ping)蔽(bi)體的(de)導線(xian)進行濾波(bo)或加上吸收
環(huan);重新考(kao)慮(lv)線(xian)路(lu)板的布(bu)局(ju),盡可能使信號及其回(hui)線(xian)的(de)環路為(wei)zui小。
3. 電(dian)源線(xian)問(wen)題
加裝或更(geng)換(huan)電(dian)源線(xian)濾波(bo)器(qi),應(ying)註(zhu)意安(an)裝的(de)位(wei)置(可裝放在機箱(xiang)中電(dian)源線(xian)入口端)和安(an)裝
的(de)情況,要保(bao)證(zheng)濾波(bo)器(qi)外殼(ke)與機(ji)箱(xiang)搭界(jie)良(liang)好、接地良(liang)好(hao);對(dui)於(yu)高頻濾波(bo),可考(kao)慮(lv)在(zai)電(dian)源
線(xian)入口的部分套(tao)裝(zhuang)鐵(tie)氧(yang)體(ti)磁環(huan)以及換成(cheng)屏蔽(bi)電(dian)纜;對(dui)於(yu)采取屏蔽(bi)線(xian)纜,屏蔽(bi)層(ceng)與機(ji)
箱(xiang)采用(yong)360度(du)搭界(jie)方(fang)式(shi)。
4. 信(xin)號線(xian)問(wen)題
在信(xin)號線(xian)上(shang)套(tao)磁環(huan),或者(zhe)換(huan)用(yong)屏(ping)蔽(bi)電(dian)纜,必要(yao)時(shi)再套(tao)上(shang)鐵(tie)氧(yang)體(ti)磁環(huan);對(dui)信(xin)號線(xian)進行濾波(bo)
(共(gong)模(mo)濾波(bo)),必(bi)要時(shi)將(jiang)連(lian)接(jie)器(qi)改用(yong)濾波(bo)陣(zhen)列板或濾波(bo)連(lian)接(jie)器(qi)。
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