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      1. <dl id="HffcRe"></dl>

        1. 產(chan)品(pin)展(zhan)示
          • EM5020前置(zhi)放(fang)大(da)器(qi)(9K-3G)
            EM5020前置(zhi)放(fang)大(da)器(qi)(9K-3G)

            EM5020前置(zhi)放(fang)大(da)器(qi)(9K-3G)主要對微(wei)弱(ruo)信號進行放(fang)大(da), 頻率範圍(wei)9KHz-3GHz;EM5020A增益約(yue)為(wei)20dB,增益約30dB,可(ke)以大(da)大(da)提高系統測(ce)試的(de)靈敏(min)度(du)。標(biao)配(pei)USB適配(pei)器(qi)和USB升壓電(dian)源轉(zhuan)接(jie)線(xian),可(ke)以直接(jie)通(tong)過頻譜(pu)分(fen)析(xi)儀或(huo)者(zhe)接收機自帶(dai)的(de)USB接口(kou)供(gong)電(dian),使用(yong)更加(jia)方便。

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          • 喀(ka)嚦(li)聲(sheng)分(fen)析(xi)儀NF-5035
            喀(ka)嚦(li)聲分(fen)析(xi)儀NF-5035

            喀(ka)嚦(li)聲分(fen)析(xi)儀NF-5035是壹款(kuan)手持式(shi)EMI分(fen)析(xi)儀器(qi),頻率範圍(wei)高達30MHz;利(li)用(yong)EMI輻(fu)射幹(gan)擾(rao)其(qi)測(ce)試本(ben)質(zhi)是測(ce)量(liang)被測(ce)品(pin)產(chan)生的(de)幹(gan)擾(rao)電(dian)磁(ci)場,采用(yong)高(gao)精度三維磁場探(tan)頭/單(dan)維電場探(tan)頭作(zuo)為(wei)輻(fu)射幹(gan)擾(rao)信(xin)號的(de)感(gan)應磁(ci)場Z小(xiao)量(liang)程(cheng)低(di)至(zhi)1pT,1mV/m電(dian)場;配(pei)合(he)免(mian)費(fei)的(de)EMI分(fen)析(xi)軟件(jian),實(shi)現(xian)對(dui)EMI低(di)頻輻(fu)射幹(gan)擾(rao)的(de)分(fen)析(xi)測(ce)試工(gong)作(zuo),進(jin)而(er)縮短(duan)產(chan)品(pin)測(ce)試工(gong)作(zuo),數(shu)據(ju)處理(li)采用(yong)高(gao)速(su)DSP(數(shu)字(zi)信號處理器(qi))芯片能(neng)精確快速處(chu)理(li)探(tan)頭感(gan)應

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          • 近(jin)場探(tan)頭組(zu)HZ530(1G有(you)源(yuan)近場探(tan)頭)
            近(jin)場探(tan)頭組(zu)HZ530(1G有(you)源(yuan)近場探(tan)頭)

            近(jin)場探(tan)頭組(zu)HZ530(1G有(you)源(yuan)近場探(tan)頭)是由用(yong)於(yu)EMI電(dian)磁(ci)輻(fu)射幹(gan)擾(rao)診(zhen)斷的(de)三個(ge)有源(yuan)寬帶(dai)探(tan)頭組(zu)成。這些(xie)探(tan)頭可(ke)與(yu)輸入(ru)阻(zu)抗為50Ω的(de)HAMEG頻譜(pu)分(fen)析(xi)儀相(xiang)連,探(tan)頭可(ke)通(tong)過頻率分(fen)析(xi)儀或(huo)電(dian)池來供(gong)電(dian)。這些(xie)探(tan)頭具有細(xi)長的(de)外形,因此甚(shen)至(zhi)在空(kong)間狹(xia)窄(zhai)的(de)測(ce)試環(huan)境(jing)中也可(ke)接觸到測(ce)試對(dui)象。

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          • 有(you)源(yuan)近(jin)場探(tan)頭HZ540HZ550(3G)
            有(you)源(yuan)近(jin)場探(tan)頭HZ540HZ550(3G)

            有(you)源(yuan)近(jin)場探(tan)頭HZ540HZ550(3G)​HZ540和HZ550為有源近(jin)場探(tan)頭組(zu)套(tao)裝(zhuang),設(she)計(ji)用(yong)於(yu)在解決(jue)電(dian)磁輻(fu)射問(wen)題(ti)時提供(gong)診(zhen)斷幫助。這些(xie)套(tao)件(jian)分(fen)別由三個(ge)或五(wu)個(ge)不(bu)同(tong)的(de)手持式(shi)探(tan)頭組(zu)成。它(ta)們擁有(you)不(bu)同(tong)的(de)靈敏(min)度(du)和接收特(te)性(xing),可(ke)結(jie)合各種頻譜(pu)分(fen)析(xi)儀、EMI接(jie)收機或(huo)示波(bo)器(qi)使用(yong)。

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          • PBS2近(jin)場探(tan)頭組(zu)(前置(zhi)放(fang)大(da)器(qi)UBBV2)DC-9G
            PBS2近場探(tan)頭組(zu)(前置(zhi)放(fang)大(da)器(qi)UBBV2)DC-9G

            PBS2近場探(tan)頭組(zu)(前置(zhi)放(fang)大(da)器(qi)UBBV2)DC-9G何頻譜(pu)分(fen)析(xi)儀、示(shi)波(bo)器(qi)或EMI測(ce)試接(jie)收機,頻率範圍(wei)超寬(kuan),滿(man)足(zu)您(nin)現(xian)在以及未來的(de)測(ce)量(liang)需(xu)求(qiu)。 PBS2近(jin)場探(tan)頭組(zu)包括4個(ge)磁場探(tan)頭和1個(ge)電場探(tan)頭,所(suo)有(you)探(tan)頭均(jun)覆(fu)蓋絕緣(yuan)層。配(pei)備(bei)手握(wo)式三角(jiao)架(jia),固定(ding)探(tan)頭組(zu),以(yi)消(xiao)除抖動帶來(lai)的(de)影響

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          • PBS1近(jin)場探(tan)頭組(zu)(DC-9G)
            PBS1近(jin)場探(tan)頭組(zu)(DC-9G)

            PBS1近(jin)場探(tan)頭組(zu)(DC-9G)適合任(ren)何頻譜(pu)分(fen)析(xi)儀、示(shi)波(bo)器(qi)或EMI測(ce)試接(jie)收機,頻率範圍(wei)超寬(kuan),滿(man)足(zu)您(nin)現(xian)在以及未來的(de)測(ce)量(liang)需(xu)求(qiu)。PBS1近(jin)場探(tan)頭組(zu)包括4個(ge)磁場探(tan)頭和1個(ge)電場探(tan)頭,所(suo)有(you)探(tan)頭均(jun)覆(fu)蓋絕緣(yuan)層。配(pei)備(bei)手握(wo)式三角(jiao)架(jia),固定(ding)探(tan)頭組(zu),以(yi)消(xiao)除抖動帶來(lai)的(de)影響。

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          • 近(jin)場探(tan)頭EM5030(DC-3G)
            近(jin)場探(tan)頭EM5030(DC-3G)

            近(jin)場探(tan)頭EM5030(DC-3G)是壹款(kuan)主要用(yong)於(yu)查找(zhao)幹(gan)擾(rao)源(yuan),判(pan)定(ding)幹(gan)擾(rao)產(chan)生原(yuan)因的(de)高性(xing)價比(bi)近(jin)場探(tan)頭。可(ke)用(yong)來(lai)檢(jian)測(ce)器(qi)件表(biao)面的(de)磁場方向(xiang)以及強度(du);檢(jian)測(ce)模(mo)塊(kuai)附近(jin)的(de)磁場環境。為(wei)了降(jiang)低(di)幹(gan)擾(rao),尋(xun)找(zhao)到(dao)真正的(de)幹(gan)擾(rao)源(yuan)或(huo)者(zhe)是其傳播(bo)的(de)途(tu)徑(jing)是非(fei)常有必要的(de)

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          • EMI傳導(dao)輻(fu)射預(yu)測(ce)試套(tao)裝(zhuang)EMC-SET2(3G)
            EMI傳導(dao)輻(fu)射預(yu)測(ce)試套(tao)裝(zhuang)EMC-SET2(3G)

            EMI傳導(dao)輻(fu)射預(yu)測(ce)試套(tao)裝(zhuang)EMC-SET2(3G)包含(han)所(suo)有(you)必(bi)要的(de)儀器(qi)和EMI分(fen)析(xi)軟件(jian),EMC-SET2能(neng)快速產(chan)評估產(chan)品(pin)的(de)輻射測(ce)試和傳導(dao)測(ce)試,使用(yong)EMI分(fen)析(xi)軟件(jian)分(fen)析(xi)其產(chan)品(pin)是否滿(man)足(zu)電(dian)磁(ci)兼容(rong)所相(xiang)對應(ying)的(de)標準(zhun)(EMI分(fen)析(xi)軟件(jian)內(nei)置(zhi)多(duo)種電磁兼(jian)容(rong)標準(zhun)),以(yi)及產(chan)品(pin)的(de)快速(su)整(zheng)改(gai)測(ce)試。

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