射(she)頻(pin)設別（RFID）系(xi)統在物流(liu)、超(chao)市(shi)、倉(cang)儲、門禁(jin)等(deng)眾(zhong)多領域得(de)到(dao)廣泛(fan)應(ying)用(yong)。在實際應(ying)用(yong)環境中(zhong)，射(she)頻(pin)識(shi)別系(xi)統會(hui)有(you)多個(ge)讀寫(xie)器同(tong)時工作(zuo)，其(qi)工作(zuo)頻(pin)率相(xiang)同(tong)。工作(zuo)時，存在相(xiang)互幹(gan)擾的(de)可(ke)能，因(yin)此在研(yan)發生(sheng)產(chan)過(guo)程(cheng)中(zhong)對(dui)射(she)頻(pin)識(shi)別（RFID）系(xi)統所產(chan)生(sheng)的(de)工(gong)作(zuo)場強(qiang)測(ce)試(shi)就(jiu)至關重(zhong)要。

射(she)頻(pin)識(shi)別（RFID）系(xi)統的(de)工(gong)作(zuo)場強(qiang)測(ce)試(shi)，按照(zhao)ISO相(xiang)關測(ce)試(shi)標準，其(qi)測試(shi)設備(bei)貴重(zhong)、體(ti)積(ji)笨(ben)重(zhong)、測(ce)試(shi)方法(fa)繁瑣，給(gei)研(yan)發測(ce)試(shi)帶來諸多不(bu)便(bian)。為簡化(hua)測試(shi)方法(fa)，切得到(dao)正確的(de)測(ce)試(shi)結果(guo)，故(gu)選(xuan)用(yong)便(bian)攜(xie)易操(cao)作(zuo)設備(bei)完(wan)成(cheng)本(ben)次測試(shi)。

1、測試(shi)設備(bei)簡(jian)介(jie)

    本次(ci)測試(shi)使用(yong)國(guo)測電(dian)子的(de)電(dian)磁輻(fu)射(she)分(fen)析儀，設備(bei)內(nei)置復合(he)探(tan)頭(tou)；針(zhen)對(dui)高(gao)頻(pin)20MHz以(yi)下(xia)信(xin)號(hao)的(de)電(dian)磁場強(qiang)度(du)進行測試(shi)與分(fen)析；

1.1儀器工作(zuo)頻(pin)率：1Hz-20MHz；

1.2量程(cheng)：

      磁場：1pT - 2mT（1500A/m）

      電場：0.1V/m - 20KV/m

1.3 MCS分(fen)析軟(ruan)件：對電磁場信(xin)號(hao)進行分(fen)析測(ce)量

1.4 射(she)頻(pin)設別（RFID）門禁(jin)刷(shua)卡系(xi)統

2、測試(shi)連接示(shi)意(yi)圖

註：電(dian)磁輻(fu)射(she)分(fen)析儀與射(she)頻(pin)設別系(xi)統距(ju)離(li)3-10cm

3、測試(shi)參(can)考標準

GB/T29797-2013  13.56MHz射(she)頻(pin)設別讀/寫(xie)設備(bei)規格(ge) 4.1.2.3  場強(qiang)部(bu)分(fen)

4、測試(shi)結果(guo)

通(tong)過(guo)USB連(lian)接設備(bei)與(yu)PC，連(lian)接後(hou)設置MCS軟(ruan)件（頻(pin)譜(pu)分(fen)析軟(ruan)件）；進行掃描分(fen)析，測(ce)量結果(guo)如下(xia)：

測試(shi)結果(guo)數(shu)值(zhi)與(yu)參(can)考標準對比，其(qi)測量結果(guo)滿(man)足(zu)標準值（Max 7./m@A類(lei) B類(lei)）

深圳(zhen)市(shi)國(guo)測電(dian)子有(you)限公司(si)    

電子(zi)測試(shi)與測(ce)量和環境檢(jian)測(ce)設備(bei)集成供(gong)應(ying)商(shang)

求(qiu)實(shi)創新(xin) 探(tan)索(suo)未(wei)知(zhi)  服(fu)務(wu)未來