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GTEM開(kai)放式(shi)橫(heng)電波小(xiao)室(shi)TBTC3 100K-6G

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GTEM開(kai)放式(shi)橫(heng)電波小(xiao)室(shi)TBTC3 100K-6G EMC電磁兼(jian)容輻(fu)射騷(sao)擾測(ce)試(shi)或(huo)抗擾(rao)度測(ce)試(shi)通(tong)常(chang)在(zai)電磁屏(ping)蔽室中進行(xing)，使用(yong)天(tian)線接(jie)收(shou)輻(fu)射信(xin)號。由(you)於帶寬(kuan)限(xian)制(zhi)，需(xu)要(yao)多個天(tian)線才能覆蓋整(zheng)個(ge)頻(pin)率範(fan)圍。此(ci)外(wai)，屏蔽暗室(shi)需(xu)要(yao)很(hen)大的空(kong)間(jian)場(chang)地(di)，並且(qie)用(yong)於標準(zhun)壹(yi)致性(xing)測(ce)試(shi)的設(she)備(bei)成本(ben)很(hen)高。

GTEM開(kai)放式(shi)橫(heng)電波小(xiao)室(shi)TBTC3 100K-6G 中(zhong)小(xiao)型(xing)企業(ye)的工(gong)程師(shi)通常(chang)必須依(yi)靠(kao)工(gong)作(zuo)經(jing)驗(yan)和最佳實(shi)踐(jian)方(fang)法來設計(ji)符合(he)EMC的產品。但是(shi)，據(ju)估計(ji)，有超過50％的產品在(zai)測(ce)試(shi)中(zhong)未(wei)通過。當新(xin)產品送(song)至(zhi)認證(zheng)實(shi)驗(yan)室(shi)進行(xing)合(he)規性(xing)測(ce)試(shi)時(shi)，測(ce)試(shi)失敗具(ju)有非(fei)常(chang)高(gao)的成本(ben)，不(bu)僅重(zhong)新(xin)測(ce)試(shi)成本(ben)，同(tong)時項(xiang)目(mu)進度和市場(chang)推廣也(ye)被推遲。
   因此需(xu)要(yao)的是(shi)壹(yi)個價(jia)格(ge)合(he)理的實(shi)驗(yan)室(shi)，可以在(zai)合(he)規性(xing)測(ce)試(shi)之(zhi)前(qian)工(gong)程師(shi)自(zi)己在實(shi)驗(yan)室(shi)中(zhong)進行(xing)輻(fu)射騷(sao)擾預(yu)測(ce)試(shi)。TEM單(dan)元是(shi)用(yong)於桌面輻(fu)射騷(sao)擾測(ce)試(shi)的設(she)備(bei)，Tekbox開(kai)發的開(kai)放式(shi)TEM單(dan)元，頻(pin)率(lv)覆蓋高(gao)達2GHz範(fan)圍，即(ji)使在更高的頻(pin)率（6GHz）下(xia)也(ye)具(ju)有可用(yong)性。
   TEM單(dan)元可與頻(pin)譜(pu)分析(xi)儀(yi)結合(he)使用(yong)，可以對(dui)產品EMC相(xiang)關(guan)的設(she)計(ji)修改(gai)前(qian)後對產品進行(xing)驗證(zheng)測(ce)試(shi)。TEM Cell裝(zhuang)置無(wu)法得(de)到與(yu)經(jing)過認證(zheng)的實(shi)驗(yan)室(shi)測(ce)量(liang)相同(tong)的測(ce)量(liang)結果(guo)，但是(shi)它能很(hen)好的表(biao)明(ming)產品設(she)計(ji)是(shi)否有(you)輻(fu)射騷(sao)擾，工(gong)程師(shi)將(jiang)清(qing)楚(chu)地(di)看(kan)到(dao)輻(fu)射情況(kuang)，它(ta)所做的是(shi)產品更(geng)改(gai)是(shi)否改(gai)善(shan)了EMC性能，或者(zhe)它是(shi)否保(bao)持(chi)不變(bian)。使用(yong)TEM單(dan)元消(xiao)除(chu)了對產品輻(fu)射騷(sao)擾的猜測(ce)。

TEM單(dan)元是(shi)用(yong)於電子(zi)設備(bei)的輻(fu)射發(fa)射和抗擾(rao)度測(ce)試(shi)的帶狀(zhuang)線設(she)備(bei)。由(you)於其(qi)尺(chi)寸(cun)和(he)成本(ben)，它(ta)不是(shi)認證(zheng)測(ce)試(shi)實(shi)驗(yan)室(shi)的替(ti)代(dai)品，它是(shi)在實(shi)驗(yan)室(shi)中(zhong)進行(xing)測(ce)量(liang)的便(bian)捷(jie)替(ti)代(dai)方法。

TEM單(dan)元由(you)隔(ge)板(ban)，中間(jian)部(bu)分(fen)的導(dao)電條(tiao)和接(jie)地(di)的壁組(zu)成。呈(cheng)現(xian)為幾何(he)形狀設計(ji)的50Ω帶狀(zhuang)線。被測(ce)設(she)備(bei)（DUT）放(fang)置在(zai)底壁和(he)隔(ge)板(ban)之(zhi)間(jian)。

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