概(gai)述(shu)
TBPS01近場(chang)探(tan)頭(tou)由TH20，H10，H5和(he)E5是磁場(chang)（H）和(he)電(dian)場(chang)（E）探(tan)頭(tou)，用(yong)於輻(fu)射(she)發(fa)射(she)EMC預(yu)壹(yi)致(zhi)性(xing)測量。探(tan)頭(tou)用(yong)於電(dian)磁輻射(she)源(yuan)的近場(chang)。它(ta)們用(yong)於在(zai)電(dian)子(zi)組件(jian)的(de)構造塊中(zhong)定位和(he)識別潛(qian)在的幹擾源(yuan)。這些(xie)探(tan)針(zhen)的作用(yong)類似於寬(kuan)帶天線，用(yong)於拾(shi)取(qu)組件(jian)，PCB跡(ji)線，外(wai)殼開口或(huo)縫隙(xi)以(yi)及(ji)可(ke)能(neng)發(fa)射(she)射(she)頻(pin)的任何其他(ta)部件(jian)的(de)輻射(she)。探(tan)頭(tou)通常連(lian)接到(dao)頻(pin)譜分(fen)析儀(yi)。在(zai)PCB組件(jian)或(huo)外(wai)殼的表面上掃描探(tan)針(zhen)可以(yi)快速(su)確定發(fa)出電(dian)磁輻射(she)的(de)位置(zhi)。通過更換為較(jiao)小(xiao)尺寸的探(tan)頭(tou)，可以(yi)進壹(yi)步(bu)縮小(xiao)發(fa)射(she)源(yuan)的範圍(wei)。其(qi)他(ta)應(ying)用(yong)是通過將RF信號(hao)饋入探(tan)頭(tou)並(bing)將(jiang)其(qi)輻(fu)射(she)到(dao)潛在(zai)敏感(gan)的電(dian)路(lu)部(bu)分(fen)中(zhong)來(lai)進行(xing)RF抗(kang)擾度測(ce)試：此(ci)外(wai)，探(tan)頭(tou)可用(yong)於維修或(huo)調試領(ling)域(yu)，以(yi)通過減少接觸式RF測量來(lai)跟蹤(zong)RF信(xin)號(hao)鏈中(zhong)的(de)問題。信(xin)號(hao)電(dian)平(ping)。另壹(yi)種應(ying)用(yong)是對(dui)射(she)頻(pin)構件(jian)（例如調制(zhi)器(qi)或(huo)振蕩(dang)器）的無(wu)創(chuang)測量。頻(pin)率(lv)，相位噪(zao)聲和(he)頻(pin)譜分(fen)量可(ke)以(yi)與(yu)低(di)噪(zao)聲前置(zhi)放(fang)大(da)器(qi)壹起(qi)測(ce)量。
應用(yong)：
EMI輻射(she)預(yu)測(ce)/整改(gai)
探(tan)頭(tou)尺寸：
探(tan)頭(tou) | 尺寸 | 環(huan)尺寸 | 環(huan)長(chang) |
H20 磁場(chang)探(tan)頭(tou) | 170mm | 20 mm | N.A. |
H10 磁場(chang)探(tan)頭(tou) | 170mm | 10 mm | N.A. |
H5 磁場(chang)探(tan)頭(tou) | 170mm | 5 mm | N.A. |
E5 電(dian)場(chang)探(tan)頭(tou) | 170mm | N.A. | 5 mm |
頻(pin)率(lv)響應：
耦(ou)合衰減：
