從輻射源強度功率角度考(kao)慮，對於(yu)零(ling)部(bu)件(jian)和整車(che)來說(shuo)，能夠耐受外界幹擾(rao)電磁(ci)環(huan)境更(geng)為重要(yao)。這就需(xu)要(yao)我(wo)們(men)在(zai)試(shi)驗環(huan)境下創(chuang)造壹(yi)個接(jie)近真(zhen)實情況(kuang)的幹擾電磁場，RI輻射抗測(ce)試自由空間(jian)天(tian)線(xian)發(fa)就是典型(xing)的(de)壹(yi)種(zhong)方法。  

當(dang)然(ran)還(hai)有很(hen)多其它(ta)測試(shi)方(fang)法，如BCI，射頻大(da)電(dian)流(liu)註(zhu)入(ru)法，其主要(yao)是為了在頻率較低(di)的(de)頻段更(geng)地(di)將(jiang)幹(gan)擾(rao)至被幹(gan)擾樣品系統線(xian)束(shu)中，因為在低(di)頻段主(zhu)要(yao)可比(bi)擬(ni)的(de)波(bo)長(chang)電尺(chi)寸(cun)是線(xian)束(shu)，如使(shi)用RI天(tian)線(xian)法，則(ze)功放設備(bei)功率極大(da)，天(tian)線(xian)尺(chi)寸(cun)和場地(di)可實現經(jing)濟(ji)性(xing)遠(yuan)不及BCI法合算。  

    此外，TEM小室，帶(dai)狀線(xian)，直(zhi)接(jie)射頻註(zhu)入(ru)等也是等效被(bei)采用的電磁輻射抗擾(rao)度方(fang)法。  

    傳統車(che)輛電子(zi)部(bu)件系統通(tong)常(chang)不大(da)，所(suo)以測(ce)試(shi)場地(di)要(yao)求不像(xiang)整車(che)需要(yao)有(you)尾(wei)氣排放和轉鼓(gu)。壹(yi)般3米法的暗室即可滿足零部件(jian)輻射抗擾(rao)天(tian)線(xian)法的場地(di)需(xu)求。  

    我(wo)們(men)的(de)半(ban)電波(bo)暗室可以進(jin)行(xing)1米法零部件輻射抗擾(rao)度測(ce)試(shi)，包(bao)括主反射區在(zai)內(nei)的(de)5面滿鋪(pu)鐵氧體(ti)和尖(jian)劈(pi)有效(xiao)避免(mian)多路徑(jing)反射疊(die)加(jia)造成測(ce)試(shi)結果(guo)偏(pian)差(cha)。