在目前(qian)的市(shi)場上(shang)，我們(men)可(ke)以(yi)見(jian)到壹些通(tong)過頻譜分(fen)析儀(yi)改(gai)造而(er)來的EMI接收機，如果應(ying)用(yong)它們(men)進行測(ce)試(shi)，必(bi)須(xu)符(fu)合相(xiang)應(ying)的標準。對於(yu)民(min)用(yong)ＥＭＣ測(ce)試(shi)，測(ce)量設備(bei)標準依據(ju)為(wei)ＣＩＳＰＲ１６－１（ＧＢ／Ｔ６１１３）。對於(yu)軍(jun)用(yong)標準測(ce)試(shi)，測(ce)量設備(bei)的標準依據(ju)是ＧＪＢ１５２（ＭＩＬ－ＳＴＤ４６２）。  

    根(gen)據(ju)上(shang)壹(yi)章(zhang)原(yuan)理分析，我們(men)可(ke)以(yi)總結(jie)出(chu)下面壹(yi)個(ge)簡單(dan)的公(gong)式：  

    通(tong)用(yong)頻譜儀(yi)＋預(yu)選(xuan)器＋６dB中頻濾(lv)波器，三種(zhong)檢波(bo)器＋點頻測(ce)試(shi)功能＋高精(jing)度信號(hao)處理＝EMI接收機  

    在公(gong)式左邊(bian)各(ge)項(xiang)並非簡單(dan)羅(luo)列(lie)，每(mei)項都(dou)有(you)特(te)殊要求(qiu)，同(tong)時根(gen)據設計(ji)原(yuan)理，在使用(yong)中(zhong)必(bi)須(xu)依(yi)據儀(yi)器生(sheng)產商(shang)的說(shuo)明(ming)進(jin)行操作，才(cai)能(neng)達(da)到(dao)相(xiang)應(ying)要求(qiu)。  

1、預(yu)選(xuan)器  

    頻段的選(xuan)擇(ze)必(bi)須(xu)依(yi)據生(sheng)產商(shang)的說(shuo)明(ming)，如(ru)果掃描(miao)跨(kua)度設置(zhi)不合適(shi)，預(yu)選(xuan)器中的固(gu)定濾(lv)波器和跟(gen)隨(sui)濾(lv)波器就(jiu)無法(fa)正(zheng)常工作。  

2、點(dian)頻測(ce)試(shi)和檢波(bo)器  

    在依(yi)據(ju)ＥＭＣ標準進行測(ce)試(shi)時，許(xu)多情(qing)況(kuang)下需要對某些固(gu)定的頻率點(dian)進(jin)行實時測(ce)試(shi)。例(li)如(ru)，許多測(ce)試(shi)工(gong)程(cheng)師(shi)在進(jin)行輻(fu)射(she)幹(gan)擾測(ce)試(shi)時，依(yi)據標準要求(qiu)，需(xu)要選擇(ze)合適(shi)的頻率點(dian)，進(jin)行轉臺(tai)的轉動和天(tian)線的升(sheng)降(jiang)，實時快(kuai)速(su)觀察和記(ji)錄(lu)該(gai)點的電平值。在這(zhe)種(zhong)情(qing)況(kuang)下，具有(you)點頻測(ce)試(shi)功能的EMI接收機能夠(gou)方(fang)便(bian)準確(que)地完成，而通(tong)用(yong)頻譜分(fen)析儀(yi)無法(fa)準確(que)實時測(ce)試(shi)單(dan)壹(yi)頻點的電平變(bian)化(hua)，ＥＭＩ測(ce)試(shi)用(yong)頻譜分(fen)析儀(yi)必(bi)須(xu)有(you)增加(jia)的功能，能(neng)夠(gou)在掃(sao)描(miao)跨(kua)度（ＳＰＡＮ）為(wei)零時，快(kuai)速(su)準確(que)的進(jin)行測(ce)試(shi)，不止是(shi)峰值顯(xian)示(shi)，同(tong)時要有(you)準峰值和平均值(zhi)。  

    依(yi)據標準ＣＩＳＰＲ１６－１，對峰值、準峰值和平均值(zhi)檢波(bo)器作脈沖(chong)響(xiang)應(ying)測(ce)試(shi)時，EMI接收機可(ke)以(yi)對單(dan)壹(yi)頻率進(jin)行點頻監測(ce)，判(pan)斷(duan)其是(shi)否(fou)符合標準，而通(tong)用(yong)頻譜儀(yi)完成這種(zhong)測(ce)量是很(hen)困(kun)難(nan)的。脈沖(chong)響(xiang)應(ying)測(ce)量是判(pan)斷(duan)EMI接收機合適(shi)與否(fou)的壹(yi)個(ge)重要指(zhi)標，不符合標準的僅(jin)能作(zuo)為(wei)預(yu)測(ce)試(shi)設(she)備(bei)。