輻射(she)抗擾(rao)度測(ce)試系(xi)統是壹種(zhong)用於測(ce)試電子設備在受到(dao)外部輻射(she)幹擾(rao)時的(de)耐受能力的測(ce)試系(xi)統。輻射(she)抗擾(rao)度測(ce)試系(xi)統通(tong)常(chang)由(you)以(yi)下(xia)幾(ji)個基(ji)本組(zu)成部分組(zu)成：
 

　　1、信(xin)號(hao)發(fa)生器(qi)：信(xin)號(hao)發(fa)生器(qi)是測(ce)試系(xi)統中最(zui)基(ji)礎(chu)的組(zu)件，它(ta)負(fu)責(ze)產生被測(ce)設備所(suo)需(xu)要的各種(zhong)測(ce)試信(xin)號(hao)。這(zhe)些(xie)信(xin)號(hao)包(bao)括正弦(xian)波、方(fang)波(bo)、脈(mai)沖(chong)等(deng)各種(zhong)形(xing)式的信(xin)號(hao)，其頻率(lv)範(fan)圍(wei)通(tong)常(chang)從幾(ji)千(qian)赫(he)茲(zi)到(dao)數(shu)十吉(ji)赫(he)茲(zi)不等(deng)。同時(shi)，信(xin)號(hao)發(fa)生器(qi)還(hai)可(ke)以(yi)產生模擬(ni)和(he)數字信(xin)號(hao)，以(yi)便測(ce)試不同(tong)類型(xing)的(de)電子設備。
 

　　2、輻射(she)源：輻射(she)源是測(ce)試系(xi)統的核心(xin)組(zu)件之壹，它(ta)負(fu)責(ze)模擬(ni)真實(shi)環境(jing)中存(cun)在的(de)各種(zhong)輻射(she)源，如(ru)雷(lei)達、無(wu)線(xian)電信(xin)號(hao)、高(gao)功率(lv)微(wei)波輻射(she)等(deng)。這(zhe)些(xie)輻射(she)源可(ke)以(yi)通(tong)過天(tian)線或(huo)其他(ta)輻射(she)裝置向測(ce)試樣(yang)品(pin)發送(song)輻射(she)信(xin)號(hao)，以(yi)測(ce)試其對外部幹(gan)擾(rao)的耐(nai)受性(xing)。
 

　　3、測(ce)試臺(tai)：測(ce)試臺(tai)是測(ce)試系(xi)統的支撐(cheng)結構(gou)，它(ta)提供(gong)了壹(yi)個固(gu)定的平臺(tai)，以(yi)便(bian)將(jiang)待(dai)測(ce)試的(de)電子設備放(fang)置(zhi)在上面(mian)進(jin)行測(ce)試。測(ce)試臺(tai)通(tong)常(chang)具有(you)穩定的機械結構和(he)電磁屏(ping)蔽能力，以確(que)保(bao)測(ce)試結(jie)果(guo)的準(zhun)確(que)性(xing)。
 

　　4、測(ce)試控(kong)制(zhi)器(qi)：測(ce)試控(kong)制(zhi)器(qi)是測(ce)試系(xi)統的另壹個核(he)心(xin)組(zu)件，它(ta)負(fu)責(ze)控(kong)制(zhi)測(ce)試過(guo)程中的各種(zhong)參(can)數和變量(liang)。測(ce)試控(kong)制(zhi)器(qi)可(ke)以(yi)通(tong)過計(ji)算(suan)機或(huo)其他(ta)控(kong)制(zhi)設備進(jin)行控(kong)制(zhi)，在測(ce)試過(guo)程中可(ke)以(yi)實(shi)時監測(ce)電子設備的(de)響(xiang)應情況，並(bing)記(ji)錄(lu)測(ce)試結(jie)果(guo)以便(bian)後續分析(xi)。
 

　　5、接(jie)收(shou)機：接(jie)收(shou)機是測(ce)試系(xi)統用來接(jie)收(shou)待(dai)測(ce)設備的(de)輸(shu)出信(xin)號(hao)的(de)組(zu)件。它(ta)通(tong)常(chang)具有(you)高靈(ling)敏度和高分辨(bian)率(lv)，以便(bian)檢測(ce)待(dai)測(ce)設備對(dui)外部輻射(she)源的響應(ying)情況。
 

　　6、數(shu)據處(chu)理(li)器(qi)：數(shu)據處(chu)理(li)器(qi)是測(ce)試系(xi)統用來處(chu)理(li)測(ce)試數(shu)據的(de)組(zu)件。它(ta)可(ke)以(yi)將接(jie)收(shou)到的(de)信(xin)號(hao)進(jin)行數(shu)字化處(chu)理(li)，並(bing)對其進行分析(xi)、比較(jiao)和(he)歸檔(dang)。數據處(chu)理(li)器(qi)還(hai)可(ke)以(yi)根(gen)據特(te)定的標準(zhun)對(dui)測(ce)試結(jie)果(guo)進行評估，以確(que)定待(dai)測(ce)設備在特(te)定條件下(xia)的(de)抗幹擾(rao)水平(ping)。
 

　　綜上所(suo)述(shu)，輻射(she)抗擾(rao)度測(ce)試系(xi)統主要由(you)信(xin)號(hao)發(fa)生器(qi)、輻射(she)源、測(ce)試臺(tai)、測(ce)試控(kong)制(zhi)器(qi)、接(jie)收(shou)機和數(shu)據處(chu)理(li)器(qi)等(deng)基(ji)本組(zu)成部分組(zu)成。這(zhe)些(xie)組(zu)件共同(tong)作(zuo)用，形成(cheng)了(le)壹套完(wan)整(zheng)的(de)測(ce)試系(xi)統，可(ke)以(yi)幫助(zhu)工(gong)程師(shi)和技(ji)術人(ren)員評估電子設備在受到(dao)外部幹(gan)擾(rao)時的(de)抗擾(rao)度水平，以提高(gao)設備的(de)可(ke)靠性(xing)和穩定性。