1.   介紹

     有(you)位客戶(hu)要求(qiu)我們幫(bang)助(zhu)解(jie)決(jue)LED燈(deng)抗(kang)擾度(du)問(wen)題(ti)。該(gai)產(chan)品(pin)在300 MHz至400 MHz頻率範圍內(nei)在實驗室中進行BCI（大(da)電(dian)流註入法(fa)）測(ce)試失(shi)敗，故障(zhang)模式(shi)是(shi)LED閃爍(shuo)。汽車BCI測試需(xu)要強(qiang)大(da)的(de)寬(kuan)帶(dai)射頻放(fang)大(da)器(qi)和(he)合適(shi)的(de)電(dian)流探頭才(cai)能將(jiang)RF註入電(dian)源(yuan)線中。由於此測試需(xu)要的(de)設(she)備(bei)並非(fei)每個設(she)計實驗室都有(you)，因(yin)此Tekbox使用了壹種可(ke)以簡(jian)單(dan)觸(chu)發(fa)類(lei)似(si)效果(guo)的(de)測試(shi)裝置預(yu)合規(gui)設(she)備(bei)。 隨(sui)後，可以(yi)再現(xian)故障(zhang)模式(shi)，可(ke)以定(ding)位(wei)DUT的(de)敏(min)感(gan)點(dian)，並可以解(jie)決(jue)抗(kang)擾度(du)問(wen)題(ti)

為(wei)了使所(suo)需(xu)設(she)備(bei)的盡量少(shao)，頻譜(pu)分析(xi)儀(yi)的(de)跟(gen)蹤發(fa)生器(qi)用(yong)作RF信號(hao)發生器(qi)。 當(dang)頻譜(pu)分析(xi)儀(yi)設(she)置為(wei)零跨度(du)時(shi)，跟(gen)蹤發生器(qi)以(yi)恒定(ding)頻率輸(shu)出(chu)RF。 更改(gai)頻譜(pu)分析(xi)儀(yi)的(de)中心頻率會相(xiang)應地(di)更改(gai)TG輸(shu)出(chu)頻率。 頻譜(pu)分析(xi)儀(yi)跟(gen)蹤(zong)發生器(qi)的(de)輸(shu)出(chu)電(dian)平通(tong)常可以以-20 dBm至0 dBm的1dB步長進行設(she)置。 Tekbox調制(zhi)寬(kuan)帶(dai)RF放(fang)大(da)器(qi)設(she)計為(wei)在饋入跟(gen)蹤(zong)發生器(qi)信號(hao)時可(ke)提(ti)供其全(quan)部(bu)輸(shu)出(chu)功(gong)率

運(yun)行Tekbox的(de)EMCview的(de)PC可提(ti)供舒適(shi)的(de)跟蹤生成(cheng)器(qi)控(kong)制(zhi)。

TBMDA3調(tiao)制(zhi)功(gong)率放(fang)大(da)器(qi)具有(you)高(gao)達5W的(de)輸(shu)出(chu)功(gong)率和(he)10MHz至1.2 GHz的可用頻率範圍，可驅動(dong)TEM單元。 為(wei)了施加高(gao)場強(qiang)，TBTC0是(shi)的TEM單元。由於其較低的(de)隔(ge)墊高(gao)度，當(dang)由TBMDA3驅動(dong)時，它(ta)可以產(chan)生高(gao)達500V/m的(de)場強(qiang)。

將(jiang)伸(shen)縮(suo)天(tian)線連接(jie)到(dao)頻譜(pu)分析(xi)儀(yi)的(de)RF輸(shu)入，以(yi)具有(you)視覺反饋的(de)方式(shi)。 由於TBTC0是(shi)壹個開放(fang)的TEM單元，它(ta)會輻射壹(yi)些(xie)RF，通(tong)常每米距離(li)以(yi)30dB的速(su)率減小。 這足以(yi)被(bei)天(tian)線拾(shi)取，以顯(xian)示放(fang)大(da)和(he)脈沖調制(zhi)的(de)RF信號(hao)的包(bao)絡。

該(gai)設(she)置基本上可以(yi)測(ce)試輻射抗(kang)擾(rao)度。 但是(shi)，為(wei)了在壹(yi)定(ding)程(cheng)度(du)上模擬(ni)BCI測(ce)試，除了DUT之(zhi)外(wai)，將(jiang)壹(yi)部(bu)分供電(dian)電(dian)纜放(fang)置在隔(ge)墊下(xia)方，以(yi)將(jiang)RF輻(fu)射到(dao)供電(dian)線路(lu)中。

3.   EMC View軟(ruan)件(jian)

EMCview當(dang)前支持Rigol和(he)Siglent頻譜(pu)分析(xi)儀(yi)的(de)跟(gen)蹤發(fa)生器(qi)控(kong)制(zhi)。 軟(ruan)件(jian)會(hui)定(ding)期(qi)更新(xin)，並會增加對其他頻譜(pu)分析(xi)儀(yi)型(xing)號(hao)的支持。

啟動(dong)EMCview之(zhi)後，首先需(xu)要與(yu)Siglent Spectrum分(fen)析(xi)儀(yi)建立連接(jie)。 這可通(tong)過(guo)DEVICE，SA USB菜(cai)單(dan)完(wan)成(cheng)。 單(dan)擊(ji)搜索按(an)鈕將(jiang)列(lie)出(chu)所(suo)有(you)已(yi)連接(jie)的設(she)備(bei)。 選(xuan)擇Siglent SA並按(an)CONNECT VISA建立連接(jie)

EMCview提(ti)供了輻射和(he)傳(chuan)導EMC測(ce)量(liang)，RF測(ce)量和(he)跟蹤(zong)發生器(qi)控(kong)制(zhi)的(de)模式(shi)。 為(wei)了進入TG控(kong)制(zhi)模式(shi)，請(qing)選(xuan)擇菜(cai)單(dan)MODE，GENERATOR。在GENERATOR模式(shi)下(xia)，用戶(hu)可(ke)以(yi)定(ding)義固(gu)定(ding)頻率和(he)掃(sao)描的列(lie)表。

據客(ke)戶(hu)反饋，DUT在300 MHz至400 MHz範圍內(nei)存在問(wen)題(ti)，因(yin)此輸(shu)入了從10 MHz到(dao)1 GHz的(de)掃(sao)描時間(jian)，每個頻率的停(ting)留(liu)時間(jian)為(wei)2秒，頻率步長為(wei)5 MHz。 TG幅度(du)設(she)置為(wei)-10 dBm，以便(bian)從(cong)TBMDA3調制(zhi)放(fang)大(da)器(qi)獲得最大(da)輸(shu)出(chu)功(gong)率

4.   掃(sao)描頻率

按(an)下(xia)PLAY按(an)鈕後，立即開(kai)始(shi)掃(sao)頻。 信號(hao)的包(bao)絡可(ke)以在頻譜(pu)分析(xi)儀(yi)上進行監(jian)視。 由於伸縮(suo)天(tian)線的(de)頻率特(te)性，包(bao)絡的(de)幅度(du)將(jiang)隨(sui)頻率而(er)變(bian)化。

掃(sao)描通(tong)過(guo)了300 MHz，DUT的性能穩定(ding)。 但(dan)是(shi)，接(jie)近(jin)800 MHz時，LED開(kai)始(shi)閃爍(shuo)，然後*熄滅，幾(ji)乎壹(yi)直(zhi)上升(sheng)到(dao)1.2GHz。

關(guan)於(yu)與(yu)BCI測(ce)試(shi)所(suo)報(bao)告(gao)問(wen)題(ti)的(de)頻率差異(yi)可(ke)以用(yong)不同(tong)的供電(dian)電(dian)纜長度以及相(xiang)應的(de)BCI測試(shi)和(he)TEM電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)期(qi)間(jian)的電(dian)纜諧(xie)振(zhen)來解(jie)釋(shi)。

5.   分(fen)析(xi)和(he)整改

LED驅動(dong)器由三個獨(du)立的線性恒(heng)流穩壓(ya)器(qi)IC組(zu)成(cheng)，每個IC驅動(dong)壹串5個LED。

使用近(jin)場探(tan)頭進(jin)行的(de)測(ce)試表(biao)明，只要靠(kao)近(jin)三個相(xiang)同(tong)部(bu)分中任何(he)壹(yi)個的調(tiao)節(jie)器IC旁(pang)邊的幾(ji)個組(zu)件(jian)，總會關(guan)閉15個LED。

這是(shi)令人驚訝的(de)，因(yin)為(wei)近(jin)場探(tan)針(zhen)僅(jin)輻(fu)射到(dao)PCBA的(de)壹(yi)小部(bu)分。最初，預(yu)計僅(jin)單(dan)個字(zi)符串會(hui)受(shou)到(dao)影響。因(yin)此，入口(kou)點(dian)必(bi)須是(shi)走線，所(suo)有(you)三個IC都共(gong)享(xiang)走線。

快速瀏覽壹下(xia)原理(li)圖(tu)，發(fa)現(xian)所(suo)有(you)三個電(dian)流調節(jie)器都(dou)只有(you)使能引腳連接(jie)在壹(yi)起(qi)，使能引腳通(tong)過(guo)相(xiang)對較長的走線互(hu)連到(dao)上拉電(dian)阻。這也將(jiang)解(jie)釋(shi)BCI測(ce)試期(qi)間(jian)通(tong)過(guo)正(zheng)電(dian)源(yuan)線為(wei)RF的入口(kou)點(dian)。

接(jie)下(xia)來，將(jiang)壹(yi)個1 nF的去耦(ou)電(dian)容器(qi)焊接(jie)到(dao)每個IC的Enable引腳。使用改良(liang)的DUT重(zhong)復(fu)進行TEM電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)，從而(er)解(jie)決(jue)了抗擾問(wen)題(ti)。

隨(sui)後，客戶(hu)相(xiang)應地(di)修(xiu)改了DUT，並成(cheng)功(gong)通(tong)過(guo)了BCI測試。