跟蹤(zong)信號源(yuan)實(shi)際(ji)上(shang)是(shi)壹個(ge)輸(shu)出幅度恒定、與(yu)頻(pin)譜(pu)儀(yi)掃描(miao)接收頻(pin)率(lv)同(tong)步(bu)的(de)掃頻(pin)信號發生(sheng)器,頻(pin)譜(pu)儀(yi)是(shi)接收機,通過(guo)壹發壹(yi)收,測量設定頻(pin)率(lv)範(fan)圍內連續頻(pin)率(lv)點(dian)上(shang)信號幅度的(de)變(bian)化情況,借以(yi)了解兩(liang)端口(kou)網(wang)絡(luo)的(de)傳(chuan)輸頻(pin)響(xiang),功(gong)能(neng)類似(si)掃頻(pin)儀(yi)和標(biao)量網(wang)絡(luo)分(fen)析儀(yi)。如(ru)果與(yu)駐波電(dian)橋配合,則(ze)可(ke)以(yi)得(de)到(dao)單端口(kou)器件(jian),如(ru)天(tian)線(xian)、負載器的(de)反(fan)射頻(pin)響(xiang)曲(qu)線(xian),用來(lai)測(ce)量器件(jian)的(de)傳(chuan)輸匹配阻(zu)抗(kang)情況。
頻(pin)譜(pu)儀(yi)是(shi)否(fou)裝(zhuang)備(bei)了跟蹤(zong)信號源(yuan),從(cong)儀(yi)器外觀(guan)上(shang)很(hen)好(hao)辨(bian)認(ren)。大部分(fen)內(nei)置(zhi)跟(gen)蹤(zong)信號源(yuan)的(de)頻(pin)譜(pu)儀(yi)都(dou)會(hui)在(zai)面(mian)板上(shang)多出(chu)壹(yi)個(ge)高(gao)頻(pin)信號輸(shu)出(chu)口,標(biao)有(you)“GEN OUTPUT”或“RFOUT”字(zi)樣(yang),要(yao)註意(yi)與(yu)壹些(xie)頻(pin)譜(pu)儀(yi)提(ti)供(gong)的(de)自(zi)校(xiao)信號端口(kou)區別(bie),自校(xiao)信號端口(kou)上(shang)通(tong)常(chang)直(zhi)接(jie)標(biao)上(shang)固(gu)定翰(han)出頻(pin)率(lv)和(he)輸(shu)出(chu)信號幅度。壹(yi)般頻(pin)譜(pu)儀(yi)的(de)跟(gen)蹤信號源(yuan)都(dou)是(shi)選件(jian),儀(yi)器面(mian)板上(shang)會(hui)留(liu)有(you)跟(gen)蹤(zong)源輸出端口(kou)的(de)位(wei)置(zhi),未安(an)裝跟蹤(zong)源組件(jian)則(ze)會(hui)用個(ge)小(xiao)蓋子封上(shang)。
使(shi)用頻(pin)譜(pu)儀(yi)跟蹤源(yuan)功(gong)能(neng)的(de)具(ju)體操作是(shi)準(zhun)備(bei)兩條(tiao)測(ce)試(shi)電纜(lan)和(he)壹(yi)個(ge)能(neng)將兩條(tiao)電(dian)纜(lan)連(lian)在(zai)壹起(qi)的(de)連(lian)接器,測(ce)試電(dian)纜(lan)用於(yu)分(fen)別(bie)連(lian)接頻(pin)譜(pu)儀(yi)的(de)跟(gen)蹤源輸(shu)出端和(he)信號輸(shu)入(ru)端,測(ce)試電(dian)纜(lan)的(de)另兩端分(fen)別可(ke)與(yu)被(bei)測(ce)器(qi)件(jian)輸(shu)入(ru)、輸出(chu)端口(kou)相連(lian)。
進入(ru)跟蹤(zong)源工作模(mo)式(shi),設置(zhi)跟(gen)蹤(zong)源(yuan)參(can)數(shu)。進入(ru)跟蹤(zong)源,設置(zhi)菜(cai)單(dan)。首(shou)先設噩(e)跟(gen)蹤(zong)源(yuan)輸(shu)出頻(pin)率(lv)範(fan)圍,這(zhe)與(yu)頻(pin)譜(pu)儀(yi)掃描(miao)頻(pin)率(lv)區(qu)間(jian)設定壹(yi)樣(yang),有“中(zhong)心(xin)頻(pin)率(lv)+掃寬(kuan)”和(he)“起(qi)始頻(pin)率(lv)十(shi)終(zhong)止頻(pin)率(lv)”兩(liang)神輸入(ru)方式(shi)。
校(xiao)正測量系統,將兩條(tiao)測(ce)試電纜(lan)通(tong)過(guo)連接(jie)器直(zhi)接(jie)互(hu)連(lian)(相當於(yu)跳過(guo)被(bei)測(ce)器(qi)件(jian)直(zhi)接(jie)短接(jie)),執(zhi)行(xing)自(zi)校(xiao)準(zhun)程(cheng)序,這(zhe)樣(yang)儀(yi)器就能(neng)修正由(you)測試(shi)電(dian)纜(lan)和(he)端口(kou)連接(jie)器引(yin)入(ru)的(de)高(gao)頻(pin)插(cha)入(ru)損耗造成的(de)誤(wu)差。通(tong)過(guo)校(xiao)正操作,測試(shi)電纜(lan)就(jiu)與(yu)頻(pin)譜(pu)儀(yi)融(rong)為壹(yi)體(ti),測試(shi)端口(kou)也由(you)儀(yi)器面(mian)板端口(kou)延(yan)伸至(zhi)測(ce)試(shi)電(dian)纜(lan)端口(kou),在(zai)頻(pin)譜(pu)儀(yi)顯(xian)示屏(ping)上(shang)也(ye)出(chu)現壹條(tiao)水(shui)平的(de)直(zhi)線(xian)(測試(shi)電(dian)纜(lan)短接(jie)狀(zhuang)態下(xia))。有(you)的(de)老(lao)式(shi)頻(pin)譜(pu)儀(yi)軟俘(fu)不支(zhi)持此(ci)類校(xiao)正操作,可(ke)跳過(guo)這(zhe)壹步驟(zhou)。未經(jing)校(xiao)正的(de)跟(gen)蹤源信號參(can)考(kao)線(xian)會(hui)出(chu)現彎曲(qu)(波動(dong))和(he)傾(qing)斜(xie)(上(shang)翹或(huo)下(xia)彎(wan))的(de)情況,影響(xiang)測(ce)量的(de)準(zhun)確性(xing)。斷開相互短接(jie)的(de)測(ce)試電纜(lan),取(qu)下(xia)連(lian)接器(qi)。將測試(shi)電(dian)纜(lan)的(de)兩(liang)端與(yu)被(bei)測(ce)器(qi)件(jian)的(de)輸(shu)入(ru)、輸出(chu)端口(kou)連接(jie),如(ru)接口(kou)類(lei)型(xing)不匹(pi)配,可(ke)使用轉(zhuan)換(huan)接(jie)頭。 連接完(wan)畢(bi)頻(pin)譜(pu)儀(yi)屏(ping)幕(mu)上(shang)顯(xian)示出被(bei)測(ce)器(qi)件(jian)的(de)傳(chuan)輸頻(pin)響(xiang)曲(qu)線(xian)。對於(yu)帶(dai)通(tong)濾(lv)波器(qi)顯(xian)示出“凸”字(zi)圖形(xing),對予(yu)小(xiao)型雙(shuang)工器(qi)壹(yi)類的(de)陷(xian)波器(qi)則(ze)顯(xian)示出“v”字(zi)形或(huo)“凹”字(zi)形圖(tu)形。圖(tu)形背(bei)景網(wang)格線(xian)表明(ming)信號落(luo)差(cha)的(de)分(fen)貝(bei)數(shu),壹般默(mo)扶(fu)背(bei)景格(ge)垂直(zhi)每(mei)格(ge)代表10dB。
上(shang)壹(yi)篇(pian):電(dian)廠工頻(pin)電(dian)磁場(chang)強(qiang)度在(zai)線(xian)監測(ce)系統
下(xia)壹(yi)篇:基(ji)於(yu)輻(fu)射電(dian)磁幹擾(rao)測量的(de)GTEM設計(ji)與(yu)分析
返回(hui)列表 | 返(fan)回(hui)頂部



級(ji)會(hui)員_a.png)